應(yīng)用領(lǐng)域
產(chǎn)品中心
型號(hào):AWL系列
型號(hào):IRX50
型號(hào):IRX60
型號(hào):AMS系列
型號(hào):CLSM610
型號(hào):M-SIM6000
技術(shù)資訊
激光共聚焦顯微鏡是一種廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、材料科學(xué)和半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域的高級(jí)成像設(shè)備。隨著科技的快速發(fā)展,國(guó)產(chǎn)激光共聚焦顯微鏡在性能、價(jià)格以及售后服務(wù)等方面展現(xiàn)出了顯著的優(yōu)勢(shì),逐漸贏(yíng)得了市場(chǎng)的認(rèn)可和青睞。首先,國(guó)產(chǎn)激光共聚焦顯微鏡在技術(shù)性能上取得了長(zhǎng)足的進(jìn)步。近年來(lái),中國(guó)的科研機(jī)構(gòu)和企業(yè)在光學(xué)、電子以及軟件技術(shù)上不斷創(chuàng)新,使得國(guó)產(chǎn)設(shè)備在分辨率、成像速度和多功能性等方面達(dá)到了先進(jìn)水平。例如,部分國(guó)產(chǎn)顯微鏡已經(jīng)能夠?qū)崿F(xiàn)超高分辨率成像及多光譜分析,這使得科研人員能夠更加精準(zhǔn)地觀(guān)察樣本...
12-26
3D超景深數(shù)碼顯微鏡是一種高精度的光學(xué)儀器,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。為了確保其長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行并延長(zhǎng)使用壽命,以下是一些養(yǎng)護(hù)方式:一、環(huán)境控制1.溫度和濕度:3D超景深數(shù)碼顯微鏡對(duì)環(huán)境的溫濕度有嚴(yán)格的要求。過(guò)高或過(guò)低的溫度都可能導(dǎo)致儀器部件膨脹或收縮,影響成像質(zhì)量。因此,應(yīng)將顯微鏡放置在恒溫恒濕的環(huán)境中,避免陽(yáng)光直射和靠近熱源或冷源。2.防塵與防震:灰塵和振動(dòng)是顯微鏡的大敵。灰塵可能堵塞光路,影響圖像清晰度;而振動(dòng)則可能導(dǎo)致圖像模糊或失真。因此,顯微鏡應(yīng)放置在平穩(wěn)...
12-25
倒置熒光顯微鏡是現(xiàn)代生物學(xué)、醫(yī)學(xué)研究及材料科學(xué)中至關(guān)重要的工具。其與傳統(tǒng)顯微鏡的最大區(qū)別在于光路設(shè)計(jì)和樣品放置方式,使其特別適用于細(xì)胞培養(yǎng)、組織切片及活體成像等研究。其核心部件之一是光源系統(tǒng),它直接影響成像的質(zhì)量與實(shí)驗(yàn)效果。近年來(lái),隨著國(guó)產(chǎn)倒置熒光顯微鏡技術(shù)的不斷進(jìn)步,國(guó)產(chǎn)光源系統(tǒng)也在逐步嶄露頭角,為科研工作者提供了更加高效、穩(wěn)定且成本可控的解決方案。一、光源的基本要求倒置熒光顯微鏡光源的主要任務(wù)是為樣品提供激發(fā)光,并確保其質(zhì)量足夠高,以便清晰地觀(guān)察熒光信號(hào)。光源系統(tǒng)的選擇直...
12-23
顯微鏡作為科學(xué)研究和教育的重要工具,已經(jīng)有幾個(gè)世紀(jì)的發(fā)展歷史。在顯微鏡的種類(lèi)中,普通共顯微鏡和聚焦顯微鏡是兩種常見(jiàn)的類(lèi)型。近年來(lái),國(guó)產(chǎn)技術(shù)的迅速發(fā)展,使其在國(guó)際市場(chǎng)上占有了一席之地。本文將探討國(guó)產(chǎn)共聚焦顯微鏡與普通顯微鏡之間的區(qū)別。首先,普通顯微鏡通常是指光學(xué)顯微鏡,它利用可見(jiàn)光和透鏡系統(tǒng)來(lái)放大樣品。其主要優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單,成本較低,適用于基礎(chǔ)的生物、醫(yī)學(xué)和材料科學(xué)的觀(guān)察。然而,普通顯微鏡的分辨率受到光學(xué)衍射極限的限制,通常在200納米左右,這使得它在觀(guān)察更精細(xì)結(jié)構(gòu)時(shí)受到限制。...
12-19
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,晶圓缺陷檢測(cè)是確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步,晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)設(shè)備以其杰出的穩(wěn)定性和安全性,成為半導(dǎo)體生產(chǎn)線(xiàn)上的重要保障。晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,利用高精度的光學(xué)成像技術(shù)和先進(jìn)的圖像分析算法,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)晶圓表面微小缺陷的快速、準(zhǔn)確檢測(cè)。設(shè)備采用非接觸式測(cè)量方式,避免了傳統(tǒng)檢測(cè)方法可能對(duì)晶圓表面造成的損傷,從而確保了產(chǎn)品的完整性和可靠性。在穩(wěn)定性方面,它展現(xiàn)出了其特殊的優(yōu)勢(shì)。設(shè)備采用精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和穩(wěn)定的光學(xué)系統(tǒng),能夠長(zhǎng)時(shí)間保持高精度和高分辨率...
12-17
快速導(dǎo)航
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